第一天課程簡介：
1. 了解測量誤差的分析以及數(shù)據(jù)處理的方法；了解目視儀器的對準(zhǔn)與調(diào)焦誤差以及光學(xué)測量基本部件的工作原理；了解光學(xué)玻璃主要光學(xué)性能參數(shù)測量的方法；了解光學(xué)零部件的基本量的測量方法；了解光學(xué)系統(tǒng)基本特性參量的測量方法；了解光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)檢驗(yàn)與評價(jià)、光學(xué)系統(tǒng)雜光與透射比的檢測以及光學(xué)傳遞函數(shù)測量的基本方法。
2.理解各種測量方法的測量原理以及誤差的來源。
3.掌握對準(zhǔn)與調(diào)焦的含義以及常見觀測系統(tǒng)的對準(zhǔn)與調(diào)焦誤差求��；掌握平行光管的調(diào)校方法及精度分析；能夠?qū)Ω鞣N測量方法進(jìn)行精度分析。
課程大綱：
1. 誤差理論基本知識
1.1主要包括測量中誤差分析的理論基本知識，
1.2測量過程中數(shù)據(jù)處理分析方法介紹；
1.3介紹目視儀器的對準(zhǔn)與調(diào)焦誤差。
2. 光學(xué)元件檢測基礎(chǔ)
2.1光學(xué)檢測中常用的光源及接收器介紹；
2.2光學(xué)材料主要性能與指標(biāo)及檢測儀器介紹；
2.3光學(xué)檢測中的典型部件及儀器介紹。
3. 光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)檢驗(yàn)與評價(jià)
3.1分辨率的測試
3.2調(diào)制傳遞函數(shù)及測量方法介紹
3.3波像差評價(jià)光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量
3.4點(diǎn)列圖及包圍圓能量介紹
3.5光學(xué)系統(tǒng)雜光與透射比的檢測介紹
4. 光束準(zhǔn)直的檢測技術(shù)
4.1光束準(zhǔn)直部件及儀器介紹
4.2光束準(zhǔn)直性的檢測技術(shù)
5. 移相干涉檢測技術(shù)
5.1干涉測量技術(shù)基礎(chǔ)
5.2常見干涉儀介紹
5.3 移相干涉檢測技術(shù)介紹
6. 光學(xué)元件面形偏差的檢測
6.1面形偏差的基本概念及檢測方法概述
6.2波面的數(shù)字指標(biāo)介紹
6.3平面及球面面形偏差檢測
6.4非球面及自由曲面檢測簡介
7. 其他測量技術(shù)
第二天課程簡介：
介紹當(dāng)前世界主流顯微測量及成像方法與儀器，重點(diǎn)研討共焦顯微、白光干涉等測量原理和發(fā)展趨勢，介紹三維顯微測量的相關(guān)國際、國家測量/計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)及應(yīng)用。
課程大綱：
1.光學(xué)顯微鏡分類及介紹
主要包括激光共聚焦顯微鏡、近場掃描光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡及各種工業(yè)檢測光學(xué)顯微鏡的功能特點(diǎn)介紹；重點(diǎn)介紹激光共聚焦顯微鏡；以及光學(xué)顯微鏡的性能參數(shù)分析。
2.主流顯微測量原理及成像方法
主要介紹顯微成像原理及成像方法的應(yīng)用。
3.共焦顯微測量技術(shù)
重點(diǎn)研討共焦顯微測量技術(shù)的原理及應(yīng)用。
4.白光干涉測量技術(shù)
重點(diǎn)研討白光干涉測量技術(shù)的原理及應(yīng)用。
5.真實(shí)商業(yè)顯微鏡的模擬仿真分析
高數(shù)值孔徑的真實(shí)商業(yè)顯微鏡的幾何光學(xué)模擬（Ray tracing），并輔以案例；
以及高數(shù)值孔徑的真實(shí)商業(yè)透鏡的矢量建模，并利用數(shù)值的計(jì)算的方法，快速計(jì)算
求得帶有像差和實(shí)驗(yàn)誤差的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)（PSF）分布，并輔以案例。
6.三維顯微測量的相關(guān)國際、國家測量/計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)及應(yīng)用
7.Q&A
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