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時間地點：

主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司（微信公眾號：infotek）；上海訊稷光電科技有限公司；常熟黌論教育咨詢有限公司（微信公眾號：honglun-seminary）
授課時間：2019年3月15日（五）-17日（日） AM 9:00-PM 16:00
授課地點：上海市普陀區(qū)武威路88弄中鑫企業(yè)廣場21號樓A座2樓（上海訊稷培訓(xùn)室）
課程費用：4500元（包含課程材料費、開票稅金、午餐費用）
授課專家：訊技光電高級顧問&高級工程師

當(dāng)收到需求者的光學(xué)規(guī)格及非光學(xué)規(guī)格如環(huán)境測試要求時，既可以著手選用所需的基板，鍍膜材料及膜數(shù)與厚度設(shè)計。設(shè)計開始可以從標準模系著手，例如高反射鏡不管波寬大小，開始我們一定是以四分之一波膜堆為設(shè)計基礎(chǔ)，倘若是截止濾光片，則應(yīng)以對稱膜堆為設(shè)計基礎(chǔ)。當(dāng)初始設(shè)計無法滿足要求時，我們需要考慮商業(yè)軟件或自行設(shè)計電腦軟件來參與合成或優(yōu)化，設(shè)計好之后，即刻進行制造成功率分析，亦看膜層厚度的誤差值的容許度，若是鍍膜機的精密度做不到，則要修改設(shè)計，重新分析直達合格為止。
透明塑料基板質(zhì)輕價廉，而且容易成型為非球面透鏡，被廣泛采用在光學(xué)系統(tǒng)中，如眼睛鏡片、相機透鏡、手機鏡頭、及顯示器面板，如OLED，近眼顯示應(yīng)用。但塑性及軟性基板的低密度致使其具有吸水性，從而使薄膜與基板的附著性不佳。再者這些塑料基板比較柔軟、容易刮傷、需要鍍上硬膜保護。因此塑料透鏡的鍍膜除了抗反射，還要兼具免受刮傷的保護。本課程會從這些方面重點闡述塑料基底的鍍制工藝及其物理特性。

1. Essential Macleod軟件介紹
1.1 介紹軟件
1.2 運行程序
1.3 創(chuàng)建一個簡單的設(shè)計
1.4 繪圖和制表來表示性能
1.5 3D繪圖-用兩個變量繪圖表示性能
1.6 創(chuàng)建一個默認設(shè)計
1.7 文件位置
1.8 通過剪貼板和文件導(dǎo)入導(dǎo)出數(shù)據(jù)
1.9 約定-程序中使用的各種術(shù)語的定義
1.10厚度（物理厚度，光學(xué)厚度[FWOT,QWOT]，幾何厚度）
1.11 單位定義
1.12 軟件如何進行數(shù)據(jù)插值
1.13 可用的材料模型（Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann）
1.14 特定設(shè)計的公式技術(shù)
1.15 交互式繪圖
2. 光學(xué)薄膜理論基礎(chǔ)
2.1 介質(zhì)和波
2.2 垂直入射時的界面和薄膜特性計算
2.3 傾斜入射時的界面和薄膜特性計算
2.4 后表面對光學(xué)薄膜特性的影響
2.5 光學(xué)薄膜設(shè)計理論
3. 理論技術(shù)
3.1 參考波長與g
3.2 四分之一規(guī)則
3.3 導(dǎo)納與導(dǎo)納圖
3.4 斜入射光學(xué)導(dǎo)納
3.5 對稱周期
4. 光學(xué)薄膜設(shè)計
4.1 光學(xué)薄膜設(shè)計的進展
4.2 光學(xué)薄膜設(shè)計中的一些實際問題
4.3 光學(xué)薄膜設(shè)計技巧
4.4 特殊光學(xué)薄膜的設(shè)計方法
4.5 Macleod軟件的設(shè)計與優(yōu)化功能
4.5.1 優(yōu)化目標設(shè)置
4.5.2 優(yōu)化方法（單一優(yōu)化，合成優(yōu)化，模擬退火法，共軛梯度法，準牛頓法，針形優(yōu)化，差分演化法）
4.5.3 膜層鎖定和鏈接
5. 常規(guī)光學(xué)薄膜系統(tǒng)設(shè)計與分析
5.1 減反射薄膜
5.2 分光膜
5.3 高反射膜
5.4 干涉截止濾光片
5.5 窄帶濾光片
5.6 負濾光片
5.7 非均勻膜與Rugate濾光片
5.8 Vstack薄膜設(shè)計示例
5.9 Stack應(yīng)用范例說明
6. VR、AR及HUD用光學(xué)薄膜
6.1 背景介紹
6.2 產(chǎn)品特性
6.3 典型VR系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計分析
6.4 典型AR系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計分析
6.5 典型HUD系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計分析
7. 防霧薄膜
7.1自清潔效應(yīng)
7.2 超親水薄膜
7.3 超疏水薄膜
7.4 防霧薄膜的制備
7.5 防霧薄膜的性能測試
8. 材料管理
8.1 光學(xué)薄膜材料性能及應(yīng)用評述
8.2 金屬與介質(zhì)薄膜
8.3 材料模型
8.4 介質(zhì)薄膜光學(xué)常數(shù)的提取
8.5 金屬薄膜光學(xué)常數(shù)的提取
8.6 基板光學(xué)常數(shù)的提取
8.7 光學(xué)常數(shù)導(dǎo)出遇到的問題及解決思路
9. 薄膜制備技術(shù)
9.1 常見薄膜制備技術(shù)
9.2 光學(xué)薄膜制備流程
9.3 淀積技術(shù)
9.4 工藝因素
10. 誤差、容差與光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)
10.1 光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)
10.2 誤差分析與監(jiān)控決策
10.3 Runsheet 與 Simulator應(yīng)用技巧
10.4 膜系靈敏度分析
10.5 膜系容差分析
10.6 誤差分析工具
11. 反演工程
11.1 鍍膜過程中兩種主要的誤差（系統(tǒng)誤差和隨機誤差）
11.2 使用反演工程來控制對設(shè)計的搜索
12. 應(yīng)力、張力、溫度和均勻性工具
12.1 光學(xué)性質(zhì)的熱致偏移
12.2 應(yīng)力工具
12.3 均勻性誤差(圓錐工具、波前問題)
13. Function功能擴展
13.1 如何在Function中編寫操作數(shù)
13.2 如何在Function中編寫腳本
14. 光學(xué)薄膜特性測量
14.1 薄膜光學(xué)常數(shù)的測量
14.2 薄膜堆積密度的測量
14.3 薄膜微觀結(jié)構(gòu)分析
14.4 薄膜成分分析
14.5 薄膜硬度、附著性及耐摩擦性的測量
14.6 薄膜表面粗糙度的測量
15. 項目管理與應(yīng)用實例
15.1 項目管理
15.2 光學(xué)薄膜項目開發(fā)過程
15.3 客戶需求分析
15.4 文檔管理與報表生成
15.5 【案例分析】Macleod 軟件在太陽能薄膜中的應(yīng)用
15.6 【案例分析】Macleod 軟件在激光薄膜設(shè)計分析中的應(yīng)用
15.7 【案例分析】Macleod 軟件在光電功能薄膜中的應(yīng)用
15.8 仿生蛾眼結(jié)構(gòu)在顯示技術(shù)上的應(yīng)用
15.9 OLED薄膜及微腔效應(yīng)
15.10 金屬線柵偏振器
16. Q&A