1. 軟件的基本使用
1.1 運行軟件
1.2 生成一個簡單的設(shè)計
1.3 繪圖，三維繪圖和表格特性
1.4 重疊交互式繪圖
1.5 指定設(shè)計的公式
1.6 通過剪切板和文件來導入導出數(shù)據(jù)
2. 常規(guī)-軟件中幾個術(shù)語的定義
2.1 厚度類型（物理厚度，光學厚度[FWOT, QWOT]，幾何厚度）
2.2 怎么定義軟件中變量的單位
2.3 軟件中怎么插入數(shù)據(jù)
2.4 支持的材料模型
3. 設(shè)計膜系：設(shè)計不同膜系的技術(shù)
3.1 斜入射薄膜
3.2 顏色模型（三基色，色度，CIE L*A*B*, CIE L*U*V*，主波長）
3.4 抗反膜
3.5 短波通/長波通濾波器
3.6 帶通濾波器
3.7 干涉截止濾光片
3.8 窄帶濾光片
3.9 負濾光片
3.10 誘導傳輸濾波器
3.11 優(yōu)化：
a) 優(yōu)化目標
b) 優(yōu)化方法(簡單優(yōu)化法，優(yōu)化，模擬退火法，共軛梯度法，四分之一牛頓法，插針法，差分進化法)
c) 鎖層和層鏈接
d) 基底影響
e) 錐角和帶寬計算
f) 簡單公差
4. Runsheet：在薄膜沉積過程中使用光學監(jiān)控器來計算目標信號
4.1 簡單光學監(jiān)控器的描述
4.2 工具因子
4.3 機器配置-指定鍍膜設(shè)備的特性
4.4 運行表單-在制造過程中顯示目標監(jiān)控信號
4.5 截止濾波器設(shè)計案例
5. Simulator：沉積過程建模決定運行表單是否完整或?qū)φ`差敏感
5.1 在模擬器中不同類型的隨機誤差
5.2 光學監(jiān)控算法的控制
5.3 邊緣濾波器例子
6. 光學常數(shù)
6.1 導出薄金屬薄膜和其他吸收薄膜的光學常數(shù)
6.2 基底光學常數(shù)的提取
6.3 采用光譜測量來計算基底的光學常數(shù)
7. 反演工程
7.1 加工過程中兩種主要的誤差類型（系統(tǒng)誤差，隨機誤差）
7.2 采用反演工程來控制在實際加工制造過程中膜系設(shè)計的研究
8． 報告生成器
8.1 可定制的打印輸出
8.2 控制打印輸出說明：頁面顯示、表格、繪圖、包含其他文件和數(shù)據(jù)源
9. 光學薄膜的顏色
9.1 顏色及其特性計算
9.2 具有顏色效果的薄膜和最優(yōu)的顏色刺激
9.3 Macleod軟件的顏色計算功能
10． 一些應(yīng)用例子
10.1 太陽能光熱吸收薄膜設(shè)計分析
10.2 應(yīng)力、散射及均勻性分析
Q&A：學員有機會提自己關(guān)心的課題作為補充話題。
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